电子测试 - 中国期刊全文数据库

刊名：电子测试

英文：Electronic Test

主办：  北京自动测试技术研究所
周期：  半月
出版地：北京市
语种：  中文;
开本：  大16开
ISSN： 1000-8519
CN：   11-3927/TN
邮发代号： 82-870
复合影响因子： 0.528
综合影响因子： 0.272

历史沿革：
现用刊名：电子测试
曾用刊名：微电子测试
创刊时间：1994

× 主　　编：王明伟
地　　址：北京市上地十街1号辉煌国际1-1708室
邮政编码：100085
全国免费电话：400-655-0308
邮　　箱：journals@188.com

电子测试

Electronic Test

收藏本刊　　在线投稿

期刊简介

往期目录

本刊是由北京自动测试技术研究所主办，通过邮局征订，面向全国发行，是专注于电子测试方面的科技类学术刊物。自创刊以来，《电子测试》一直受到研究所、企业的开发、生产、质检工程师和院校师生的喜爱。自2007年1期开始，《电子测试》的内容将更侧重于测试技术和产品解决方案。为了更加符合读者的需求，突出杂志的实用性、启发性、学习性、传播性，让《电子测试》真正成为读者案头的工具书，成为专业人士了解国内外测试行业最新发展趋势和最新热点的窗口。本刊设计研发；电子科技；解决方案；智能应用；机械世界；数字时代；信息工程；行业动态；教育探索；学术交流；科技论坛等